AFM kombinované s Ramanem

Ntegra Spectra II - novinka pro rok 2016

Ntegra Spectra II je nejnovější generací přístroje umožňujícího spojení kvalitního AFM mikroskopu s velmi pokročilým konfokálním mikroskopem (Ramanova/fluorescenční mikroskopie). O kvalitách přístroje svědčí to, že jeden z prvních přístrojů Ntegra Spectra II byl nainstallován také na špičkové TERS (Tip Enhanced Raman Spectroscopy) pracoviště profesora Zenobiho na ETH univerzitě v Curychu, Švýcarsko. Přístroj nabízí více než 30 základních a pokročilých AFM módů, včetně módu HybriD pro měření mechanických vlastností vzorku a poskytuje tak uživateli široké spektrum informací o fyzikálních vlastnostech povrchu vzorku. Integrace konfokálního Ramana/fluorescenční mikroskopie dále rozšiřuje tyto informace zejména o chemické složení povrchu. Mikroskop je připraven pro TERS experimenty, které umožňují získat Ramanské mapy  s rozlišením v řádu desítek nanometrů v mnohem kratší době ve srovnání s klasickou konfokální technikou. Přístroj navíc umožňuje také měření SNOM (scanning near-field optical microsopy) v různých konfiguracích.  

Hlavní výhody Ntegra Spectra II:

  • Výrazné zlepšení komfortu obsluhy ve srovnání s první generací přístroje  kombinované s možností vytvaření zcela individuálních optických experimentů dle požadavků uživatele
  • Výkonné a všestranné AFM
  • Možnost optického přístupu (excitace/sběr) v libovolné konfiguraci - zeshora, zboku nebo zespoda, optimalizováno pro TERS a SNOM
  • Díky použití kvalitních materiálů jsou jednotlivé komponenty dostatečně veliké/masivní aby umožňovali jednoduchou manipulaci při vytváření požadované konfigurace. Flexibilní optický design je ideální pro vytváření jedinečných experimentů podle specifických požadavků uživatele
  • Automatické nastavení AFM laseru, sondy a fotodiody

Další informace najdete na stránkách výrobce.

Ntegra Spectra

Jedná se o integraci špičkového SPM mikroskopu a konfokální mikroskopie/Ramanovy spektroskopie. Systém umožňuje měření v nejdůležitějších AFM módech (více než třicet) a poskytuje tak informace o vzorku s rozlišením v řádu nanometrů - topografie, lokální tuhost, elasticita, vodivost, povrchový potenciál, magnetizace atd. Kombinací s Ramanovou spektroskopií jsou tyto informace doplněny o chemické složení vzorku. Systém umožňuje i měření Scanning near field optical microscopy (SNOM). Mikroskop umožňuje TERS experimenty - je možné použít Tip Enhanced Raman Spectroscopy, která vylepšuje rozlišení Ramanovy spektroskopie až na úroveň 10 nm.

Bližší informace naleznete na stránkách výrobce.

Produkty

© 2024, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑