ElvaX Plus

ElvaX Plus

Spektrometr je vybaven zcela novou generací velkoplošných SDD detektorů s rozlišením 136 eV a schopností načítat až 600 000 impulzů za 1s bez podstatného zhoršení rozlišovací schopnosti. Detektor nabízí vynikající citlivost jak pro lehké prvky (je použito ultratenké Be okénko, nebo volitelně Grafenové okénko), tak i pro středně těžké a těžké prvky (má zvýšenou účinnost záchytu K čar s vyšší energií). Zcela přepracován byl také plně digitální procesoru pulzů a nová je také nízkošumová „end window“ vzduchem chlazená rentgenka. Spektrometr ElvaX Plus je univerzálním energiově disperzním XRF spektrometrem určeným pro analýzu prvků v rozsahu od 11Na po 92U (verze s Grafenovým okénkem od 8O). Spektrometr kromě běžné kvalitativní, semikvantitativní a kvantitativní analýzy umožňuje také vysoce přesnou bezkalibrační analýzu kovových slitin a unikátní metodu, která kombinuje výhody bezkalibrační a kalibrační analýzy při analýze velmi malých vzorků nebo vzorků se zakřiveným povrchem. Tato unikátní metoda je zejména vhodná pro kriminalistickou nebo archaometrickou analýzu. Spektrometr může přímo analyzovat jakýkoliv typ vzorků (kovové slitiny, prášky, kaly, organické kapaliny, pasty, filtry, atd.) s velmi dobrými detekčními limity a vysokým spektrálním rozlišením. Díky velmi příznivé ceně tak nachází uplatnění nejen v tradičních aplikačních oblastech ED XRF spektrometrie (kontrola kvality v metalurgii, při výrobě pigmentů, keramických materiálů a olejů, v celních a kriminalistických laboratořích, při analýze životního prostředí), ale také v oblastech, kde použití takovýchto spektrometrů nebylo doposud efektivní z důvodů vysoké ceny spektrometru s dostatečným rozlišením (analýza Ca a P v krmných směsích, analýza premixů, biochemické laboratoře, mobilní tribotechnická analýza, ...). Spektrometr se dodává také v konfiguraci pro velmi přesnou analýzu slitin drahých kovů nebo pro kriminalistické laboratoře (výměnné kolimátory od 1 do 4 mm, zabudovaná videokamera pro pozicování vzorku).

Software spektrometru umožňuje velmi přesnou bezkalibrační analýzu nebo kombinaci kalibrační a bezkalibrační analýzy, tyto postupy eliminují problémy s variabilní geometrii vzorku (je možné měřit například i velmi tenké drátky, nebo volně sypané špony a piliny) při současném dosažení velmi nízké chyby analýzy (pod 0.1 %) i pro komplikované systémy jako jsou například Pt/Ir/Pd/Rh slitiny. Díky nové generaci detektorů, elektroniky a rentgenky se dosahuje extrémně vysoké reprodukovatelnosti analýzy (RSD pod 0.02% pro 30 s integrace u majoritních prvků ve slitinách).

Hlavní přednosti spektrometru:

  • Nejmodernější SSD detektory, rentgenky a elektronika. Firma Elvatech je dlouhodobým vývojovým partnerem předních světových výrobců detektorů a miniaturizovaných rentgenek.
  • Vynikající detekční limity při krátkých časech analýzy (včetně lehkých prvků)
  • He mikroproplach – minimální spotřeba He při přesné analýze lehkých prvků
  • Vysoká konfigurovatelnost systému – široké možnosti analýzy
  • Unikátní software – velmi pokročilá automatická kvalitativní analýza (identifikace prvků ve vzorku), kvantitativní analýza s empirickými modely se všemi možnostmi na úrovni vlnově disperzních systémů, pokročilá bezkalibrační analýzy, unikátní kombinované metody kalibrační analýzy, …

Spektrometr se dodává ve dvou modifikacích:

ElvaX Plus – vzorková komora s rozměry 20 x 30 x 9 cm

ElvaX Plus Industrial – vzorková komora s rozměry 50 x 50 x 35 cm

Produkty

© 2024, RMI, s.r.o. – všechna práva vyhrazena

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑