Zpět | Úvod » Produkty » Souhrnný přehled » Materiálová analýza » Mikroskopie skenující sondou (SPM, AFM)

Mikroskopie skenující sondou (SPM, AFM)

Naše firma zastupuje ruskou firmu NT-MDT, která nabízí špičkové modulární AFM mikroskopy.

Mapování mechanických vlastností - V roce 2013 firma NT-MDT představila nový měřící mód, který umožňuje mapování mechanických vlastností vzorku, HybriD (také známý jako RSI). Díky upgradu elektroniky je doba měření tohoto módu srovnatelná se standardním měřením AFM. Jednou ze zásadních výhod je minimalizace laterálních sil působících na hrot, což prodlužuje životnost hrotů a usnadňuje skenování vzorků slabě vázaných na substrát nebo měření topografie a vodivosti i měkkých vzorků, jako jsou polymery. V současnosti je nabízena již třetí generace HybriD 3.0 s vylepšeným mechanismem - v každém skenovaném bodě je provedeno měření přibližovací křivky kontrolované pomocí close loop senzoru. Po oddálení hrotu od vzorku se hrot přesune k dalšímu měřenému bodu a opět je proměřena přibližovací křivka. Tento nový mód má několik výhod:

Není nutné nastavovat parametry zpětné vazby a vybírat oblasti křivky, nastavení měření je tedy jednodušší
Uživatelské rozhraní módu HybriD 3.0 je plně integrováno do kontrolního softwaru AFM mikroskopu Nova Px.
Je možné nastavit dobu prodlevy, po kterou má být hrot v kontaktu se vzorkem, například pro měření vodivostního AFM.
Přesuny mezi body skenu jsou prováděny vždy když je hrot oddálen od vzorku, jsou tak zcela eliminovány laterální síly působící na hrot. To jednak usnadňuje měření např. vzorků slabě vázaných na substrát a dále prodlužuje živostnost hrotu.

Tento upgrade na mód Hybrid 3.0 je možné provést na všech stávajících AFM mikroskopech NT-MDT. Pro bližší informace nás prosím kontaktujte.

Modulární AFM mikroskop

AFM mikroskop Ntegra od firmy NT-MDT nabízí všechny dostupné techniky AFM/STM/SNOM spojené se špičkovými parametry (úroveň šumu, X-Y-Z linearita a rozsah, rozlišení optického systému 0.3 um, ...), ale také plnou modularitu, která umožňuje rychlou a jednoduchou přestavbu systému. Investicí do jednoho systému tak nemáte uzavřenu cestu k jeho rozšiřování do dalších aplikačních oblastí.

Produkty

Souhrnný přehled

Prohlášení o přístupnosti | Podmínky užití | Ochrana osobních údajů | Mapa stránek

Webové stránky vytvořila eBRÁNA s.r.o. | Vytvořeno na WebArchitect | SEO a internetový marketing

Nahoru ↑

Mikroskopie skenující sondou (SPM, AFM)

Modulární AFM mikroskop

AFM kombinované s Ramanem

Spotřební materiál pro SPM

Kalibrace laterální sil pro AFM

Doplňující obsah

Produkty